XSiCA-100 硅涂量分析仪专为硅油涂布行业打造的精准分析仪器，助力工艺控制与成本管理。可准确测量多种基材上的硅油涂布量，包括：PET离型膜、格拉辛纸、淋膜纸、牛皮纸等。

高分辨率

检测精度可达 ±0.001 g/m²

广泛适用

适用于塑料离型膜、各类离型纸等

无需裁剪

整张 A4 大小样品直接放入测试，无需裁剪取样

多点连续测试

单张薄膜或纸张可进行多点连续测试，效率极高

数据接口

定制 TCP/IP 协议 API，支持模块控制、状态监控及数据采集

分析范围

0.03 g/m² ~ 50 g/m²

探测器

AMPTEK 定制版 FastSDD 探测器

内置工控电脑

NXP IMX8 四核 A53

高压电源

50 kV / 1 mA 数字高压电源

X 射线管

20 kV / 1 mA，铍窗，靶材：银/铑，焦点：Φ1.0 mm

准直器

Φ8 mm

输入电压

AC 100 ~ 240 V，50 Hz

产品尺寸（L×W×H）

467 mm × 345 mm × 336 mm

样品腔尺寸（L×W×H）

306 mm × 248 mm × 124 mm

包装尺寸（L×W×H）

800 mm × 535 mm × 450 mm

额定功率

< 150 W

X 光管寿命

5000 小时

毛重 / 净重

50 kg / 32 kg

噪音

≤ 50 dB

使用环境温度

15°C ~ 31°C

使用环境湿度

< 70%（不结露）

Linux 内核版本

4.14.98

XRF 软件版本

V1.2.0

RTM 版本

R1010157000121028

系统固件版本

V8.03（B02）

DSP 固件版本

V6.10

GZEN-S6700 主机

1 台

标准校正块

1 个

样品支撑膜（备用）

1 套

电源线

1 根

键盘 + 鼠标

1 套

中英文操作手册

1 份

便携防尘罩

1 个